存储条出厂检测:温度是比电参数更直观的”体检报告” 存储条(DRAM内存条)的出厂检测…
红外热像仪在存储条(DRAM)出厂缺陷检测中的应用方案
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存储条出厂检测:温度是比电参数更直观的”体检报告” 存储条(DRAM内存条)的出厂检测…
芯片集成度越来越高,单颗SoC可能集成上百亿晶体管,功耗密度急剧上升。局部热点(Hot Spot)往往是导致设…
一、为什么你的”短波热像仪”可能测不准? 在冶金、玻璃制造、半导体、钻石生长等高端制造…
导语: 在工业红外测温领域,长波红外(8-14μm)长期占据主流地位。然而,越来越多的制造业用户发现,当他们把…